Park Systems investiert in fortschrittliches Messtechnikportfolio für 3D-Packaging und Logikforschung
GWACHEON, Südkorea, 11. Juni 2026 /PRNewswire/ -- Park Systems, ein weltweit führender Anbieter von Lösungen für Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Nanomesstechnik, gab heute den Start eines neuen gemeinsamen Entwicklungsprogramms (JDP) bekannt. Im Rahmen des JDPs wird Park Systems Messlösungen unter Einsatz seines umfassenden Produktportfolios bewerten und entwickeln – darunter Rasterkraftmikroskopie (AFM), Weißlichtinterferometrie (WLI), bildgebende spektroskopische Ellipsometrie (ISE) sowie digitale holografische Mikroskopie (DHM).
imec mit Hauptsitz in Belgien verfügt über hochmoderne Einrichtungen, die als globales Forschungszentrum für fortschrittliche Halbleitertechnologien dienen. Dort wird das gesamte Halbleiter-Ökosystem zusammengebracht, um Technologien gemeinsam zu entwickeln, zu validieren und zu skalieren – von der frühen Forschung bis hin zu industrietauglichen Lösungen. Im Rahmen des JDPs wird imec Muster bereitstellen, die auf Roadmaps für Advanced 3D-Packaging und Logik der nächsten Generation basieren. Der Umfang des neuen JDPs spiegelt sowohl die zunehmende Komplexität der Halbleiterfertigung als auch die kontinuierliche Erweiterung des Messtechnikportfolios von Park Systems wider.
„Die Halbleiterfertigung ist in eine neue Ära der Komplexität eingetreten – eine Ära, die immer höhere Anforderungen an die Messtechnik stellt", sagte Dr. Sang-il Park, Gründer und Geschäftsführer von Park Systems. „Im Rahmen dieses JDPs mit imec setzen wir das gesamte Spektrum unserer neuen Messtechniklösungen ein, um die prägenden Herausforderungen der nächsten Generation der Halbleiterfertigung zu meistern."
Die Unterzeichnung dieses JDPs fällt mit einem Meilenstein für Park Systems zusammen, da das Unternehmen seinen neuen globalen Hauptsitz in Gwacheon, Südkorea, einweiht – eine Einrichtung, die darauf ausgelegt ist, die Fähigkeiten weiterzuentwickeln, die im Rahmen dieser Zusammenarbeit untersucht werden sollen.
„Zukünftige Halbleiterarchitekturen und -materialien stellen die Integration von Bauelementen vor erhebliche neue Herausforderungen, und dies gilt in noch stärkerem Maße für die Messtechnik", sagte Philippe Leray, Bereichsleiter für Patterning-Forschung und -Entwicklung bei imec. „Um diese Herausforderungen zu bewältigen, sind Innovation und die synergetische Integration verschiedener Technologien erforderlich. Durch unsere Zusammenarbeit mit Park Systems wollen wir zeigen, wie dessen neueste Fähigkeiten die künftige Roadmap der Halbleitertechnologie ermöglichen können."
Das JDP umfasst zudem die Mitgliedschaft im Industrial Affiliation Program (IIAP) von imec für 3D Systems Integration und hat eine Laufzeit von zwei Jahren.
Informationen zu Park Systems
Park Systems ist ein weltweit führendes Unternehmen im Bereich der Nanomesstechnik und bietet fortschrittliche Messlösungen für Forschungs- und Industrieanwendungen. Das Unternehmen wurde von Dr. Sang-il Park gegründet, der an der Erfindung der Rasterkraftmikroskopie (AFM) an der Stanford University mitgewirkt hat. Durch kontinuierliche Innovation und strategische Übernahmen hat sich das Unternehmen zu einem führenden Akteur in der globalen Nanomesstechnikbranche entwickelt. Das Technologieportfolio von Park Systems umfasst AFM, Weißlichtinterferometrie (WLI), digitale holografische Mikroskopie (DHM), bildgebende spektroskopische Ellipsometrie (ISE), aktive Schwingungsisolationssysteme sowie Massivmetallsonden. Mit Niederlassungen in Nord- und Südamerika, Europa und Asien unterstützt Park Systems Kunden in den Bereichen Halbleiterfertigung, Materialwissenschaften und Nanotechnologieforschung.
Weitere Informationen finden Sie auf www.parksystems.com
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